Résumé:
J'ai conçu et monté les méthodes de caractérisation de la conduction électrique par le biais de la courbe I(v).ce montage de mesure représente l'état de l'art.il peut caractériser les micros et nano matériaux .tout le travail a été conçu et réalisé au laboratoire de physique à guelma .j'ai testé avec ce montage plusieurs composants électroniques,une diode zener,deux diodes électroluminescentes à longueurs d'ondes différentes,deux photodiodes d'une source de rayonnement différents et un transistor bipolaire.
pour le montage automatisé le temps du test est de l'ordre de quelques minutes.mes résultats montrent que les caractéristiques mesurées sont presque les mêmes données par le constructeur .
